DRAM FT 測試機
功能介紹
對封裝后的芯片顆粒進行實際應用條件下的功能指標測試，對芯片施加輸入信號、采集輸出信號，并判斷芯片在不同工作條件下功能和性能的有效性，通過通信接 口將測試結果傳送給分選機，分選機據(jù)此對被測試芯片進行標記、分選等。
產(chǎn)品介紹
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地址：深圳市龍華區(qū)龍華街道清寧路富安娜工業(yè)園D棟1樓
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